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1. 鏡面式露點儀                            　                         不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術，檢測出露層并測量結露時的溫度，直接顯示露點。鏡面制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡面制冷率和精密測量結露溫度前提下，該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前上zui高精度達到±0.1℃(露點溫度)，一般精度可達到±0.5℃以內(nèi)。 2. 電傳感器式露點儀                               　                               采用親水性材料或憎水性材料作為介質，構成電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數(shù)或電導率發(fā)生相應變化，測出當時的電容值或電阻值，就能知道當時的氣體水份含量。建立在露點單位制上設計的該類傳感器，構成了電傳感器式露點儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點溫度)，一般精度可達到±3℃以內(nèi)。3. 電介法露點儀                              　                         利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子，從而在電極上積累電荷的特性，設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點溫度)，一般精度可達到±3℃以內(nèi)。 4. 晶體振蕩式露點儀                              　                              利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術，目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關產(chǎn)品，但精度較差且成本很高。5. 紅外露點儀                              　                     利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，可以設計紅外式露點儀。目前該儀器很難測到低露點，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級，還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術，對于環(huán)境氣體水份含量的非接觸式在線監(jiān)測具有重要的意義。  6. 半導體傳感器露點儀                               　                               每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時，就和受到充電激勵的晶格產(chǎn)生共振，其共振頻率與水的摩爾數(shù)成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。                                                                                   　        隨著現(xiàn)代科學技術的發(fā)展，人們紛紛把光電技術、新材料技術、紅外技術、微波技術、微電子技術、光纖技術、聲波技術甚至納米技術應用到氣體中水份的測量，使水份測量這一古老領域煥發(fā)出青春。        在測量原理上，技術人員認定鏡面結露的方法是zui直接且精度zui高的方法。鏡面露點儀在技術上將引進近代技術成份。如山東青島歐必勝科技公司研制的冷鏡式激光露點儀采用了激光準直技術和CCD技術，在露層判別、露霜圖像識別技術上走到了世界前沿。專業(yè)人員在傳統(tǒng)的傳感器材料研究（如氧化鋁材料、氯化鋰材料、高分子材料和陶瓷材料）基礎上，用*不同的技術手段，陸續(xù)發(fā)展出許多間接測量氣體中微量水份的方式方法，解決了不同領域和不同環(huán)境中的微水份測量問題。